JEOL JSM-7610FPlus 掃描/透射電子顯微鏡采用半浸沒(méi)式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng),提供穩(wěn)定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進(jìn)行低加速電壓觀察、通過(guò)r-filter分選信號(hào)等滿(mǎn)足各種需求的高擴(kuò)展性。
JEOL JSM-7610FPlus 掃描/透射電子顯微鏡采用半浸沒(méi)式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng),提供穩(wěn)定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進(jìn)行低加速電壓觀察、通過(guò)r-filter分選信號(hào)等滿(mǎn)足各種需求的高擴(kuò)展性。
JEOL JSM-7610FPlus 掃描電子顯微鏡采用半浸沒(méi)式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng),提供穩(wěn)定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進(jìn)行低加速電壓觀察、通過(guò)r-filter分選信號(hào)等滿(mǎn)足各種需求的高擴(kuò)展性。