INVENIO R是布魯克推出的研究級(jí)傅立葉變換紅外（FTIR）光譜儀的入門級(jí)產(chǎn)品。顧名思義，INVENIO 將幫助用戶在要求嚴(yán)苛的分析與研發(fā)應(yīng)用領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)“發(fā)明"和“發(fā)現(xiàn)"。INVENIO產(chǎn)品的創(chuàng)新技術(shù)及其智能精巧的設(shè)計(jì)為新一代傅立葉變換紅外光譜儀樹(shù)立了標(biāo) 準(zhǔn)。新的光路設(shè)計(jì)將帶來(lái)優(yōu)異的信噪比、較寬的光譜范圍（覆蓋從遠(yuǎn)紅外至紫外/可見(jiàn)光譜 區(qū)）和最高的靈活性，適用于各種復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)配置?？蛇x的集成平板電腦觸控界面讓您擁有 簡(jiǎn)單的工作流程和舒適的操作體驗(yàn)。布魯克的MultiTect™檢測(cè)器技術(shù)支持多達(dá)5個(gè)全自動(dòng)室溫檢測(cè)器。結(jié)合獨(dú)立的 DigiTect™檢測(cè)器位與支持快速M(fèi)IR測(cè)量的Transit™通道，INVENIO內(nèi)部可配備多達(dá)7個(gè) 自動(dòng)檢測(cè)器，讓您的日常工作變得更加舒心。

一、應(yīng)用示例

01 集快速掃描與電化學(xué)于一體

此?3D?圖顯示了氰亞鐵酸鹽溶液在-0.3V?到0.8V?電壓區(qū)間內(nèi)的氧化情況。從反應(yīng)開(kāi)始到達(dá)到平衡的整個(gè)氧化過(guò)程中兩個(gè)特征帶的變化趨勢(shì)均通過(guò)快速掃描功能記錄下來(lái)，實(shí)現(xiàn)了優(yōu)于15?毫秒的時(shí)間分辨率。

02 步進(jìn)掃描TRS

此?OPUS 3D?圖顯示了中紅外激光二極管在啟動(dòng)后?100?納秒內(nèi)的情況。納秒級(jí)時(shí)間分辨率與?2 cm-1?的高光譜分辨率同時(shí)實(shí)現(xiàn)，從而清晰地解析激光發(fā)射過(guò)程中的所有模式。

03 發(fā)射率研究

室溫以上的發(fā)射率測(cè)量，用于對(duì)太陽(yáng)能吸收材料特性分析等領(lǐng)域。此光譜圖顯示了在不同的高溫條件下，使用?INVENIO?光束輸入口上安裝的發(fā)射適配附件?A540?和標(biāo)準(zhǔn)室溫檢測(cè)器測(cè)得的鍍銅表面的光譜圖。

04 布魯克FM光譜

通過(guò)?INVENIO?并使用?Platinum Diamond ATR、標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)部紅外源，以及超寬區(qū)間的布魯克?FM?光學(xué)元件，一次性測(cè)量（無(wú)任何區(qū)間間隙）得出的磺胺塞唑從?4000 cm-1?至?80 cm-1光譜圖。

05 半球反射率

此圖顯示的鍍膜玻璃鏡的全反射光譜，使用兩個(gè)積分球測(cè)得。從約?23000  cm-1?到?400  cm-1的三段不同光譜區(qū)間的銜接，是通過(guò)兩種不同類型的分束器，以及三個(gè)檢測(cè)器和自動(dòng)切換兩個(gè)光源來(lái)實(shí)現(xiàn)的?？梢?jiàn)光區(qū)間中的干涉條紋可用于確定鏡面上鍍膜的厚度。

06 多個(gè)輸入/輸出口

INVENIO具有靈活性。在這個(gè)簡(jiǎn)化的光學(xué)圖中，右側(cè)的兩個(gè)光束輸出端口、左側(cè)的一個(gè)光束輸出端口，以及右側(cè)和后部的兩個(gè)光束輸入端口都是可用的。這些端口可用于同時(shí)連接外部光源、RAM II FT-Raman模塊、光纖聯(lián)用裝置和HYPERION顯微鏡等設(shè)備。

07 TGA 聯(lián)用

此?OPUS 3D?圖顯示了卡馬西平在高達(dá)?500°C條件下的熱分解情況。借助?OPUS?軟件中的譜庫(kù)與譜庫(kù)檢索功能，測(cè)得?62°C?左右溫度時(shí)的產(chǎn)物為丙酮、230-445°C?溫區(qū)的產(chǎn)物為異氰酸、445°C?以上溫度時(shí)的產(chǎn)物為氨。此示例證明，熱重分析（TGA）與傅立葉變換紅外（FTIR）光譜儀的聯(lián)用非常適合跟蹤藥物活性劑的整個(gè)分解過(guò)程。

08 可見(jiàn)光光譜區(qū)間

使用?8 cm-1?光譜分辨率和不同光闌尺寸，在紫外/可見(jiàn)光區(qū)間和近紅外區(qū)間測(cè)得的背景單光束光譜和?100%?線。通過(guò)使用內(nèi)部近紅外光源、近紅外/可見(jiàn)光/紫外寬帶分束器，以及三個(gè)?MultiTect™?檢測(cè)器，實(shí)現(xiàn)了最高的短波長(zhǎng)效率。

二、特點(diǎn)

• 01.優(yōu)化的譜儀尺寸，更適用于實(shí)驗(yàn)室工作臺(tái)

• 02.密封、干燥的光學(xué)平臺(tái)，可選擇性地進(jìn)行吹掃

• 03.基于?RockSolid™?的無(wú)磨損、準(zhǔn)直干涉儀，讓您能夠輕松地更換分束器

• 04.3?個(gè)輸出與?2?個(gè)輸入光束端口，可通過(guò)軟件進(jìn)行選擇。

• 05.OPUS?軟件，方便進(jìn)行操作和數(shù)據(jù)評(píng)估

• 06.集成了觸控面板和專用的?OPUS-TOUCH R&D?軟件，實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單快捷的實(shí)驗(yàn)操作精致的?LED?指示燈，準(zhǔn)確指示儀器狀態(tài)

• 07.精致的?LED?指示燈，準(zhǔn)確指示儀器狀態(tài)

• 08.創(chuàng)新?MultiTect™?檢測(cè)器技術(shù)支持多達(dá)?5?個(gè)檢測(cè)器位

• 09.用戶可更換的?DigiTect™?檢測(cè)器插槽

• 10.Transit™?通道及集成?MIR DTGS?檢測(cè)器，可快速測(cè)得透射結(jié)果

• 11.使用雙通道?24?位動(dòng)態(tài)區(qū)間?ADC，實(shí)現(xiàn)全數(shù)字化信號(hào)處理

• 12.布魯克?FM?技術(shù)，實(shí)現(xiàn)?6000 cm-1?至?80 cm-1?中遠(yuǎn)紅外譜區(qū)的一次性測(cè)量

• 13.可實(shí)現(xiàn)近紅外、遠(yuǎn)紅外和紫外/可見(jiàn)光光譜區(qū)間的輕松升級(jí)

• 14.快速掃描、慢速掃描和步進(jìn)掃描性能，為您生成調(diào)制光譜與時(shí)間分辨光譜

• 15.兼容所有?VERTEX?附件及外部模塊

• 16.可選用繞過(guò)樣品倉(cāng)的直接發(fā)射光束路徑

• 17.樣品倉(cāng)蓋可在?3?秒內(nèi)卸下并裝上

Transit™通道可用于快速進(jìn)行中紅外透 射測(cè)量，而無(wú)需占用主樣品倉(cāng)。

MultiTect™檢測(cè)器單元支持多達(dá)5個(gè)軟 件控制的室溫或電致冷檢測(cè)器。

可選的DigiTect™檢測(cè)器插槽支持液氮 冷卻型檢測(cè)器、快速檢測(cè)器、高增益檢測(cè) 器及其他檢測(cè)器

1.光譜分辨率

INVENIO的光譜分辨率優(yōu)于0.16  cm-1，可滿足幾乎一切測(cè)量的要求。無(wú)論對(duì)于固體和液體等凝聚態(tài)樣品，還是低溫晶相樣品，或是氣相樣品，INVENIO都能勝任。

2.光譜區(qū)間擴(kuò)展

INVENIO R可選 擇 性 地配備 光 源、任意 數(shù)量的分束器和檢測(cè)器，以覆蓋從 15 cm-1至28,000 cm-1，也就是從超遠(yuǎn)紅外至中、近紅外，再至可見(jiàn)光和紫外光的整個(gè)光譜區(qū)間。得益于準(zhǔn)直的RockSolid™干涉儀、布魯克的MultiTect™檢測(cè)器技術(shù)、多個(gè)內(nèi)部與外部光源位置和專用于多個(gè)光譜區(qū)間的光學(xué)元件，譜區(qū)擴(kuò)展變成了一項(xiàng)十分簡(jiǎn)單的任務(wù)。

3.布魯克的 FM 技術(shù)

布魯克的 FM遠(yuǎn)中紅外技術(shù)由其的超寬區(qū)間分束器和寬區(qū)間 DLaTGS檢測(cè)器組成。通過(guò)一次性測(cè)量，無(wú)需更換任何光學(xué)元件，即可生成完整的遠(yuǎn)紅外與中紅外光譜。結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)部紅外光源與 FM 元件，足以覆蓋從6000 cm-1至80 cm-1的寬區(qū)間。

準(zhǔn)直干涉儀和內(nèi)部分束器存放位置，讓您能夠輕松可靠地完成分束器更換。

空間充足，即使大型附件也能存放其中，QuickLock™ 支架前端設(shè)有鎖定與釋放按鈕。

TGA模塊等多種外部附件均可與 INVENIO聯(lián)用。

4.集成觸控面板

您可以選擇集成觸控面板，輕松完成研發(fā)級(jí)工作。該觸控面板不僅可左右移動(dòng)，而且還能沿兩個(gè)軸傾斜。觸控面板PC?中安裝了專用的?OPUS-TOUCH R&D?軟件，有助于簡(jiǎn)化工作流程和實(shí)現(xiàn)直觀操作。在研究應(yīng)用工作中，還可連接臺(tái)式電腦。

5.MultiTect™ 檢測(cè)器技術(shù)

讓人難以置信但千真萬(wàn)確的事實(shí)是，布魯克創(chuàng)新型的 ?MultiTect™?檢測(cè)器技術(shù)可同時(shí)自動(dòng)控制多達(dá) ?5個(gè)室溫檢測(cè)器。MultiTect™?檢測(cè)器單元可配置諸如DTGS、InGaAs、硅二極管或?GaP?等各種室溫傅立葉變換紅外（FTIR）檢測(cè)器，從而覆蓋從遠(yuǎn)紅外至紫外/可見(jiàn)光的整個(gè)光譜區(qū)間。信號(hào)將由一個(gè)?24?位動(dòng)態(tài)區(qū)間的雙通道?ADC?直接進(jìn)行數(shù)字化。額外的?DigiTect™?檢測(cè)器插槽，可用于安裝?MCT?或其它特殊檢測(cè)器。

OPUS-TOUCH R&D 軟件的主屏幕（深色用戶背景）

6.Transit™ 測(cè)量通道

INVENIO 可選擇性地配置一個(gè)額外的透射通道，這樣就無(wú)需移除主樣品室中的大型附件裝置，從而讓您能夠快速、方便地進(jìn)行中紅外光譜的測(cè)量。Transit™ 通道中包含一個(gè)專用的中紅外DTGS檢測(cè)器，可以安裝用于壓片樣品的支架、用于薄膜樣品的磁性樣品架、用于各類扁平狀樣品的夾具，以及大多數(shù)液體池附件。結(jié)合 MultiTect™ 與DigiTect™ 技術(shù)，INVENIO 可配置多達(dá)7個(gè)內(nèi)部檢測(cè)器，并可通過(guò)軟件來(lái)自動(dòng)選擇這些檢測(cè)器。

7.光源技術(shù)

可同時(shí)安裝兩個(gè)內(nèi)部光源與兩個(gè)外部光源，并可通過(guò)軟件來(lái)選擇這些光源，以覆蓋從遠(yuǎn)紅外至紫外/可見(jiàn)光的完整光譜范圍。采用新型CenterGlow™技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)部MIR光源可帶來(lái)更高的信號(hào)強(qiáng)度與穩(wěn)定性。使用右側(cè)或后部的輸入端口，光源的輻射將直接導(dǎo)入光譜儀的光闌與濾光器。為實(shí)現(xiàn)最高分辨率的發(fā)射率研究或光源表征分析，此功能十分重要。

OPUS-TOUCH 光譜測(cè)評(píng)與處理功能的顯示界面（淺色用戶背景）

8.新一代智能型研究級(jí)光譜儀

INVENIO R 的創(chuàng)新型儀器設(shè)計(jì)體現(xiàn)在多個(gè)方面，例如，樣品室中用于方便更換附件的增強(qiáng)型 QuickLock 功能、用于自動(dòng)識(shí)別的電子編碼窗片和樣品支架、用于驗(yàn)證與定制專用濾光器的8檔濾光器輪，以及用于高靈敏度檢測(cè)器或用于衰減外部光源或激光的內(nèi)部 5 級(jí)自動(dòng)衰減器輪。新一代電子單元內(nèi)置 CPU，非常強(qiáng)大，并為日后各種升級(jí)與功能擴(kuò)展做了鋪墊。此外，INVENIO R 的光學(xué)元件可隨時(shí)進(jìn)行多個(gè)光譜范圍的升級(jí)，這樣，您只需購(gòu)買相應(yīng)光學(xué)元件（光源、分束器和檢測(cè)器）即可完成光譜范圍的擴(kuò)展。總體而言，INVENIO 樹(shù)立了新一代智能型研究級(jí)傅立葉變換紅外光譜儀的里程碑。

三、外置附件

1.適合于高級(jí)應(yīng)用

INVENIO的樣品室兼容多種采樣裝置，例如，透射測(cè)量、ATR、IRRAS、鏡面反射與漫反射裝置、積分球等。此外，當(dāng)某些特定應(yīng)用需要對(duì)樣品室進(jìn)行復(fù)雜的或大量的實(shí)驗(yàn)搭建，或者需要使用一臺(tái)光譜儀交替地執(zhí)行多個(gè)應(yīng)用任務(wù)，或者需要騰出內(nèi)部樣品倉(cāng)用于進(jìn)行常規(guī)的測(cè)量任務(wù)時(shí)，您可以選用外置擴(kuò)展附件。INVENIO有3個(gè)輸出和2個(gè)輸入光束端口，可用于連接多個(gè)附件，例如，PLII光致發(fā)光模塊、RAMIIFT-Raman模塊、熱重分析儀（TGA）、Hyperion系列FTIR顯微鏡、HTS-XT高通量篩選裝置、用于VCD或PM-IRRAS實(shí)驗(yàn)的PMA50模塊，以及XSA外部樣品倉(cāng)模塊等。擁有所有這些擴(kuò)展可能性，INVENIO能夠完成幾乎所有的可通過(guò)FTIR技術(shù)來(lái)處理的分析任務(wù)。

2.傅立葉變換紅外（FTIR）顯微鏡

憑借全自動(dòng)紅外化學(xué)成像、清晰的樣品觀察以及多種紅外與可見(jiàn)光物鏡，HYPERION 系列顯微鏡將充分地幫助您輕松高效地進(jìn)行最高靈敏度的微粒分析。HYPERION 的光譜范圍可從中紅外擴(kuò)展到近紅外譜區(qū)，甚至擴(kuò)展到 25,000 cm-1的可見(jiàn)光區(qū)。結(jié)合使用 HYPERION 與 INVENIO，還能以出色的空間分辨率，完成對(duì)微小樣品的發(fā)射率顯微測(cè)量。HYPERION 2000是全自動(dòng)紅外顯微鏡，可配備多個(gè)單點(diǎn)檢測(cè)器。HYPERION 3000高光譜成像顯微鏡利用了集成的焦平面陣列（FPA）檢測(cè)器。

3.聯(lián)用技術(shù)

INVENIO與熱重分析（TGA）系統(tǒng)的聯(lián)用，可提供大量額外信息。將熱重分析與傅立葉變換紅外光譜儀結(jié)合使用，是同時(shí)識(shí)別TGA過(guò)程中釋放的多種氣體的理想解決方案。TG-FTIR技術(shù)能快速、準(zhǔn)確地提供材料在不同溫度和其他外界條件變化下的分解結(jié)果。

4.FT-Raman模塊

RAMII模塊將快速、簡(jiǎn)易的樣品處理功能與FT-Raman具有的出色熒光抑制功能相結(jié)合。紅外與拉曼光譜之間的切換可通過(guò)軟件輕松完成。RAMII模塊還可與可選的FT-Raman顯微鏡聯(lián)用，并同時(shí)與SENTERRAII色散型拉曼顯微鏡結(jié)合使用。

5.光致發(fā)光（PL）模塊

PL II光致發(fā)光模塊可用于分析室溫或低溫條件下的化合物半導(dǎo)體材料。PL II模塊內(nèi)部配置可見(jiàn)光（532納米）或近紅外（1064納米）激發(fā)激光器。此外，可選的激光輸入端口可用于適配輸入外部用戶定制的激光器。

6.偏振調(diào)制附件

憑借雙通道 ADC 技術(shù)與強(qiáng)大電子單元中的集成解調(diào)器，INVENIO 可實(shí)現(xiàn)全數(shù)字化信號(hào)處理。結(jié)合PMA 50和光調(diào)制器 (PEM)，可以實(shí)現(xiàn)雙調(diào)制技術(shù)的出色性能，包括用于測(cè)量超薄樣品層的光彈性調(diào)制紅外反射吸收光譜法（PM-IRRAS），以及針對(duì)手性分子的振動(dòng)圓二色光譜分析法（VCD）。

7.OPUS軟件

布魯克的OPUS軟件是一種簡(jiǎn)單易用、強(qiáng)大的、一體化的光譜儀軟件，預(yù)安裝于傅立葉變換紅外光譜儀中。它包含的數(shù)據(jù)采集、處理與評(píng)價(jià)功能，這些功能針對(duì)實(shí)驗(yàn)室常規(guī)分析與研究領(lǐng)域的應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化。該軟件提供了多種軟件包及功能，可用于反應(yīng)監(jiān)測(cè)、譜庫(kù)檢索與識(shí)別、多變量量化、3D 數(shù)據(jù)可視化和質(zhì)量控制向?qū)АPUS-TOUCH軟件針對(duì)INVENIO的集成觸控屏進(jìn)行了優(yōu)化調(diào)整。該觸控軟件具有頂級(jí)的觸控用戶界面，讓您能夠直觀、舒適地進(jìn)行紅外光譜分析。OPUS界面可實(shí)現(xiàn)定制。無(wú)論是對(duì)于要求限制操作員權(quán)限的質(zhì)控實(shí)驗(yàn)室，還是對(duì)于要求嚴(yán)苛、希望從軟件的靈活性與開(kāi)放權(quán)限中獲益的研究級(jí)用戶，OPUS都將通過(guò)擴(kuò)展的用戶管理與設(shè)置來(lái)滿足您的要求。

8.驗(yàn)證解決方案

如今的分析實(shí)驗(yàn)室必須遵守監(jiān)管要求。布魯克提供了全面的系統(tǒng)驗(yàn)證，通過(guò)符合FDA監(jiān)管規(guī)則的現(xiàn)代化數(shù)據(jù)庫(kù)，確保數(shù)據(jù)完整性。布魯克的 OPUS驗(yàn)證程序（OVP）旨在幫助受監(jiān)管的企業(yè)以成本效益的方式，遵守GMP/GLP/cGMP要求。此OPUS套件支持使用自動(dòng)化內(nèi)部驗(yàn)證單元（內(nèi)部濾光器輪）、可追溯標(biāo)準(zhǔn)和藥典儀器資格協(xié)議。OVP允許結(jié)合采用相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試、驗(yàn)收條件和必要測(cè)試間隔來(lái)執(zhí)行OQ & PQ驗(yàn)證測(cè)試。

艾克賽普公司是布魯克湖南授權(quán)代理商，如果您有布魯克傅立葉變換紅外（FTIR）光譜儀光譜儀需求或者任何疑問(wèn)歡迎聯(lián)系，我們將提供免費(fèi)樣機(jī)上門試用和更合適的測(cè)試解決方案。